局部放电通常不会使绝缘介质的放电通道稳定存在，但该现象的发生会降低绝缘介质的电气性能和机械性能。因此局部放电对绝缘介质的影响是逐渐积累缓慢发展的过程，严重影响到电气设备的稳定正常的工作及生产安全。对局部放电的微观原理的研究主要有两种：汤逊理论和流注理论。

（1）汤逊放电理论
自由电子在电场中被加速并与气体中的微观粒子发生撞击，在此过程中电子的能量不断升高。电子能量升高到某个临界点后，气体发生电离产生新的自由电子和离子，这些电子持续运动，进一步出现更多新的电子和离子。该过程不断进行，自由电子呈指数增加，最终导致电子崩，达到自持放电条件时，会发生局部放电现象。汤逊放电理论通常应用在低气压且间隙较小的情况。

（2）流注放电理论
随着研究的深入1939年H.Raether充分认识到了汤逊放电的局限并寻求在此理论之上的拓展及补充，最终提出了一种新的解释：流注放电理论。流注放电认为电子崩的场强与外施电场在气体间隙的场强强度是自持放电的重要条件，电场畸变最终会产生流注现象。流注放电产生的原因是在出现电子崩时，电子崩头尾之间的离子浓度差达到临界值时发生辉光放电，气体中的中性分子受到辉光放电产生的光子影响发生二次电子崩。两次雪崩累加的影响会产生更多的电子崩，当发展到电子崩两极时就产生了气体放电现象。气体放电通过放电通道形成流注放电，流注是发生自持放电的重要条件之一，该现象进一步发展为局部放电。在工程实际中，造成绝缘劣化的主要原因是流注放电。