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高压技术
全自动变比组别测试仪
时间:2021-01-10

全自动变比组别测试仪

(2)从泄漏电流数值上反映出来的情况

1) 泄漏电流过大。应先检查试验回路、设备状况和屏蔽是否良好,在排除外因之后,才能对被试品做出正确的结论。

2) 泄漏电流过小。应检查接线是否正确,微安表保护部分有无分流与断线。

(3)影响泄漏电流大小的因素

1) 中试控股高压试验线对泄漏电流的影响:由于与被试品连接的导线通常在空气中(不加屏蔽时),被试品的加压端也在外,所以周围空气有可能发生游离,产生对地的泄漏电流,尤其在海拔高、空气稀薄的地方更容易发生游离,这种对地泄漏电流将影响到测量的准确度。用增加导线直径、减少尖端或加装防晕罩、缩短导线、增加对地距离等措施,可减少对测量结果的影响。

2) 相对湿度的影响:当相对湿度大时,表面泄漏电流远大于体积泄漏电流,被试品表面易于吸潮,使表面泄漏电流增加,必须擦净表面,并装设屏蔽环。

3) 温度的影响:温度对高压直流试验结果的影响是极为显著的,因此,对所测得的电流值均需换算至相同温度,才能进行比较。在被试品温度30~80℃时做试验,因为在这样的温度范围内泄漏电流变化较明显,而低温时变化较小。

4) 全自动变比组别测试仪电荷的影响:被试品绝缘中的电荷是否放尽,直接影响泄漏电流的数值,因此,试验前对被试品必须进行充分放电。

ZSBC-VI 变压器变比测试仪

一、简介

ZSBC-VI变压器变比测试仪(内置充电电池)用于电力变压器以及电压互感器的匝数比或电压比的测量,可满足变压器预防性试验规程等的试验。

根据IEC及有关标准规定,在电力变压器交接和检修试验过程中,变压器变比试验是必做的项目。这样可有效变压器及使用过程中的质量,防止变压器匝间短路,开路,连接错误,调压开关内部故障或接触故障。多功能全自动变比测试仪除具有完全根据现场使用要求,操作简便,功能完备,数据稳定可靠的特点外还是目前为止可以进行盲测(不知道被测变压器的联结方式及组别的情况下准确测量)测试主变并列运行状态的变比测试仪;从根源上测试变压器并列运行的测试问题,适应各种大中小型变压器变比测试的需要,是到目前为止变比测试中测试项目完善,测量参数全面的变比测试仪。

该仪器采用大屏幕真彩色液晶做为显示器,全中文图形化操作界面并配有汉字提示信息、多参量显示的液晶显示界面,人机对话界面友好,向量图显示及接线判断为检查电路的正确性可靠的依据。导电硅胶键盘操作方式,操作手感好,简便易学。仪器内置大容量掉电不丢失数据存储器,可将现场校验数据保存下来,可扩展存储1000组现场校验结果,后台微机管理软件,将结果上传至计算机,实现微机化管理。

二、特征

1、真正三相测试:单相电源输入,内部数字合成三相标准正弦波信号源,经大功率功放实现三相电源输出,0.1%失真度小,稳定性高,相间对称度极高,测试结果具有更好的等效性,不会出现组别误判等现象。

2、既可进行单相测量,又可实现三相绕组的自动测试,单相、三相均可测量极性,相角,一次完成测量AB、BC、CA三相的变比值、误差、分接位置、分接值等参数,可进行自动识别组号。

3、操作简单:无需选择接线方式,无需选择接线组别,测量Y/△、△/Y变压器无需外部短接,可根据选择的测试内容自动切换接线方式。

4、分接测试:能快速测量在各分接开关位置的变比及变比误差,额定变比只需输入一次,不必反复输入就能计算出各分接位置的变比误差。

5、可以以内置充电电池做为工作电源,现场不用寻找工作电源。(选配功能)

6、首次在变比测量中引入测量相角的概念,能测量高压侧与低压侧任意角度的相角。

7、能进行主变并列运行测试,真正实现变压器并列运行参数的检测。

8、抗振性好:接插件的使用增强了抗振性能。

9、采用7寸高清彩屏显示数据效果和矢量图效果直观细腻。

10、将各电压、电流之间的大小及相位关系用矢量图直观的表示出来,使从主观上可以更轻易的明了各参量的实际意义。

11、本仪器所用的测试源是数字合成的标准正弦数字源,失真度小,不受工作电源的影响。

12、携带方便:体积小,重量轻。

三、参数

1、变比测量范围:0.8~10000。

2、测量速度快:8秒完成三相测试。

3、测量精度: 高压侧电压的测量精度0.05%

低压侧电压的测量精度0.1%

变比测量精度 0.1%(0.9-3000)

0.2%(3000-10000)

4、携带方便、适合野外作业。

5、重量:3Kg

注意事项

(1)从微安表反应出来的现象

1) 电流周期性变化。可能是被试品绝缘不良,从而产生周期性放电。

2) 电流突然变化。如减小,可能是电源回路短路;如增大,可能是试验回路或试品出现闪络,或内部断续性放电引起。

3) 全自动变比组别测试仪电流随时间变化。若逐渐下降,可能是充电电流减小或被试品表面绝缘电阻上升引起;若逐渐上升,可能是被试品绝缘老化引起。


 

 

 

 

 

 

 

 

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