(1)高压开关局部放电产生的原因。局部放电产生的原因。局部放电是指在电场作用下发生在绝缘体内局部区域中的放电现象，而绝缘体整体部分并未发生贯穿性放电，仍然保持绝缘的性能。高压开关使用的绝缘介质除瓷、空气外，还有六氟化硫（SF6）、油、上胶纸（布）、环氧树脂、工程塑料以及由不同材料组成的复合体。由于绝缘结构和工艺上的种种因素的影响，绝缘体内可能存在残存的气泡或杂质，气体的介电常数总是小于液体或固体材料的介电常数。在交变电场下，电场强度的分布与介电常数成反比。所以如果在液体或固体介质内含有气泡时，气泡内的电场强度要比周围介质的高，而气泡的击穿场强却比液体和固体低得多，故气泡首先发生放电现象，而其他介质仍然保持绝缘性能，这就形成了局部放电；如果绝缘体内有杂质，则此杂质边缘电场集中，也会出现局部放电；导体表面有毛刺或较尖的棱角也会形成电场集中而发生局部放电。

在SF6中若含有金属微粒，会造成电场畸变而发生局部放电；在GIS中的绝缘件表面上如果不够光洁或附有灰尘，也会使电场局部集中而发生局部放电；即使在地位的壳体内表面上，如果焊缝不平整、毛糙，也会出现电场局部集中而发生局部放电。

（2）局部放电的危害。持续的局部放电会形成一系列电脉冲。而局部放电的电子、正负离子在电场的作用下具有的能量一般都比高聚物的键能大，这些带电质点撞到介质气隙壁上，就可能打断绝缘体的化学键。同时，在放电点上介质发热可达很高的温度，使绝缘产生热裂解或促进氧化裂解，这些都破坏了绝缘体的分子结构。另外局部放电过程中生成许多活性生成物（如臭氧），存在水分时会产生硝酸和草酸等而腐蚀绝缘体，使介电性能劣化。局部放电时还产生x射线和γ射线，这些射线能量大，可能会促使高分子分解为单体，对某些材料会促使分子间的交联而使材料发脆。

在充SF6气体的GIS中，若产生局部放电，就会生成或分解出一些新的生成物，如果在支撑导体的固体绝缘子的填充剂中有硅元素存在时，可能生成SF4，这种生成物具有导电性，污染SF6,从而降低其击穿场强，最终造成击穿或闪络。

由于局部放电对绝缘体有较大的危害，所以中试电气提醒您：在高压开关检测中，主要是对采用有机绝缘材料的高压开关或零部件，应进行局部放电测试。