变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理

     变频抗干扰介质损耗测试仪测量线路包括一路标准回路和一路被测回路,如图3所示。标准回路由内置高稳定度的标准电容器与采样电路组成，被试回路由被试品和采样电路组成。变频抗干扰介质损耗测试仪由单片机运用计算机数字化实时采集方法，对数以万计的采样数据处理后进行矢量运算，分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系，并由之算出试品的电容值（Cx）和介质损耗角正切（tgδ），测量结果可靠。

     现场有干扰时，先利用移相、倒相法减小干扰的影响，再将被试回路测得的电流Ix’与单独测得的干扰电流Id矢量相加，得到真正的测量电流Ix，进而得出正确的测量结果。可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品（正接法）时，“Lv”（E）点接地；而测量接地试品（反接法）时，则“Hv”点接地。