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线缆介损因数测试仪
时间:2023-11-29

中试控股技术研究院鲁工为您讲解线缆介损因数测试仪

ZSDJS-9510电缆介损测试仪

电缆介损试验相关标准

DL/T 1694.6-2020 高压测试仪器及设备校准规范 第6部分:电力电缆介质损耗测试仪
GB/T 3048.11-2007 电线电缆电性能试验方法 第11部分:介质损耗角正切试验
GB/T 3334-1999 电缆纸介质损耗角正切(tgδ)试验方法(电桥法)
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GOST 12179-1976 电缆和导线介质损失角正切测定法

简易读懂:电缆介损测试仪是做什么?

ZSDJS-9510电缆介损测试仪针对大容量和高电压容性设备,如高压电缆(介损tgδ:无限制,电流I20uA  I  15A,电压HV1KV  HV  40KV,频率 f30Hz f  300Hz),高压电机,高压套管的出厂试验等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

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ZSDJS-9510高压电缆介损测试仪主要针对大容量和高电压容性设备,如高压电机,高压套管的出厂试验,高压电缆等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

特点:
17寸彩色液晶显示工业级电容屏:仪器采用高端电容式触摸7寸彩色液晶显示屏,超大显示界面所有操作步骤中文菜单显示,每一步都清晰明了。
2、超宽电流量程:正接法和反接法电流测量量程都可以达到20uA-15A的超宽范围,更大电流可定制。
3、超宽频率范围:外施高压频率可达30Hz-300Hz的超宽范围,自适应测量。
4、各种高电压可定制:外施高压电压能够满足各种高电压环境,可根据用户需求定制。
5、光纤高压通讯:测试主机高压采样与低压采样之间采用工业级光纤通讯模块,在兼顾高低压之间绝缘性能的同时又能最大程度保障测试数据的精度。
6、独立手持操作终端:手持终端与测试主机完全隔离采用2.4G无线通讯,整个测试过程中用户只需在手持终端上操作即可,最大程度保障操作人员的人身安全。
7、锂电池供电:手持终端、测试主机低压端、测试主机高压端,都采用锂电池供电,充满电可连续工作8小时以上。
8U盘存储:本机存储的数据可以通过USB接口保存至U盘中。
参数:
1、使用条件:-15℃∽40 RH80%
2、标准电容:tgδ: <0.005%Cn: 99.78PF
耐压电压: 40KV
3、分辨率:介损tgδ: 0.001%,电容量Cx: 0.001pF,频率f0.001Hz
4、精度:介损△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%),电容量△C x :±(读数*1.0%+1.00PF),频率 f:±(读数*1.0%+0.10Hz)
5、测量范围:介损tgδ无限制,电流I 20uA  I  15A,电压HV 1KV  HV  40KV,频率f 30Hz f  300Hz
6、手持终端锂电池:7800mAh锂电池
7、充电器:DC12.6V    3000mA
8、显示方式:7800*480彩色液晶显示屏
9、操作方式:工业级电容触摸屏
10、手持终端尺寸(mm)270(L)×160(W)×65(H)
11、测试主机尺寸(mm)300(L)×300(W)×600(H)
12、存储器大小200组,支持U盘数据存储
13、重量(手持终端)1.5Kg
14、重量(测试主机)23Kg

参考文献


交联聚乙烯电缆的介质损耗介绍

现象:电介质在外电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电缆绝缘介质(XLPE)也不例外。

定义:电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,即介质损耗(diclectric loss),简称为介损。

作用:介质损耗的大小是衡量绝缘介质电性能的一个重要指标。介质损耗不但消耗了电能,而且使绝缘发热引发热老化。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。

形成机理:按照电介质的物理性质通常有三种电介质损耗形式。

1)漏导损耗:实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。

对于XLPE电缆,在直流及交流电压下都存在漏导损耗,通常直流电压用泄漏电流的大小或绝缘电阻的大小来反映介质的这一损耗情况。

2)极化损耗:在介质发生缓慢极化时(松弛极化、空间电荷极化等),带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。

对于XLPE电缆,只有在交流电压下才存在极化损耗,而且随着交流频率的增大,极化损耗通常也增大。

3)局部放电损耗:通常在固态电介质中由于存在气隙或油隙,当外施电压达到一定数值时,气隙或油隙先放电而产生损耗,这一损耗在交流电压下要比直流电压时大的多。

对于XLPE电缆,在直流电压下,可用泄漏电流的大小来反映电介质的损耗,而在交流电压下,介质损耗不能单用泄漏电流来表示,通常用介质损耗正切来表示,即在一定的交流电压下,电缆绝缘所表现出的等效电阻Rg的大小值。

由于交联聚乙烯电力电缆不推直流耐压试验,交流耐压试验仅能反映电缆的电介质击穿特性,不能反映电缆的损耗特性,因此有必要对电力电缆进行介损测量。




1.弛豫损耗
交变电场E 改变其大小和方向时,电介质极化的大小和方向也随着改变。如电介质为极性分子组成(极性电介质)或含有弱束缚离子(这类偶极子和离子极化由于热运动造成,分别称为偶极子和热离子),转向或位移极化需要一定时间(弛豫时间),电介质极化与电场就产生了相位差,由这种相位差而产生了电介质弛豫损耗。如组成电介质的极性分子和热离子的弛豫时间r比交变电场的周期T大得多,这些粒子就来不及建立极化,电介质弛豫极化就很小。在低频电场下,粒子的弛豫时间比T小得多,但由于单位时间改变方向的次数很少,电介质的弛豫损耗也很小。
弛豫极化过程在含有极性分子和弱束缚离子的液体和固体电介质中产生。对于含有极性基团的高分子聚合物,极性基团或一定长度分子链亦可产生转向极化形式的弛豫极化。液体所将性电介质的弛豫损耗与黏度有关,对于极低黏度的水、酒精等极性电介质,弛豫损耗出现在厘米波段:弛豫损耗与温度、电场频率有关。
2.共振损耗
对于电子弹性位移极化和离子弹性位移极化,电介质可以看成是许多振子的集合,这些振子在电场作用下作受迫振动,并终以热能方式损耗。当电场频率比振子频率高得多或低得多时.损失能量很少。只有当电场频率等于振子固有频率(共振)时,损失能量较大,故称电介质共振损耗。电子弹性位移极化,约在紫外频率波段,而离子位移极化,约在红外频率波段。
3.电导损耗
实际电介质均具有一定电导,由于贯穿电导电流引起的电介质损耗(焦耳损耗)称为电介质电导损耗,一般情况下很小,但当表面电导的急剧增大时,这一损耗往往也急剧增加。它与电场频率无关。
4.局部放电损耗
常用的固体绝缘中往往不可避免地含有某些气隙或油隙,它的绝缘温度远低于固体绝缘材料。在电场的作用下,气隙中原先发生局部击穿(电晕放电)。而放电所形成的电荷,在外施电场E0作用下移动到气隙壁上,形成反电场E,此反电场在直流电场下恰好削弱了气隙中的电场,很可能放电不再继续下去。若外加是交变电压,经半周期后,外加电压E0反向,正好与前半周气隙中电荷形成的反电场E同方向,串联介质中的电场分布与介电系数成反比,所以交流电压下电介质的局部放电及损耗较直流电压下强烈。

7、变频串联谐振试验成套装置在电缆耐压试验中的优势应用

    变频串联谐振耐压试验装置主要针对10kV-110kV电压等级的电缆及所有电气主设备的现场交流耐压试验设计制造。通常电抗器采用多只分开设计,既可满足高电压、小电流的设备试验条件要求,又能满足10kV-35kV电压等级这样的低电压的交流耐压试验要求,具有较宽的适用范围,是地、市、县级高压试验部门及电力安装、修试工程单位理想的耐压试验设备。

  今天主要介绍变频串联谐振装置的耐压试验原理,首先介绍下组成:

      变频串联谐振试验成套装置主要由变频控制器,励磁变压器,高压电抗器,高压分压器等组成。变频控制器又分两大类,20KW及以上为控制台式,20KW以下为便携箱式;它由控制器和滤波器组成。

变频控制器主要作用是把幅值和频率都固定的380V200V工频正弦交流电转变为幅值和频率可调的正弦波。并为整套设备提供电源。励磁变压器的作用是将变频电源输出的电压升到合适的试验电压。高压电抗器L是谐振回路重要部件,当电源频率等于1/2π√LCX)时,它与被试品CX发生串联谐振。

      变频串联谐振装置大电容量的电气设备(如大型发电机组、电力变压器、电力电容器、GIS、电力电缆等)在一定频率范围内的绝缘耐受与工频耐压具有一定的等效性,这样就为利用变频试验装置的电感与被试品的电容串联产生谐振电压来进行交流耐压试验提供了可能,且由于试验装置的励磁电压低、重量轻,非常方便于在施工现场使用。现就变频串联谐振试验装置的特点、原理和在实际应用中的几点体会进行阐述。

一、变频串联谐振耐压试验装置的特点

   利用串联谐振原理在回路中产生高电压,一般频率为30~300Hz。串联谐振中的直流高压发生器如下图表示:

 

    当电源频率(f)、电感(L)及被试设备电容(C)满足下式时回路处于串联谐振状态此时:f=1/2π√LC,回路中电流为I=Ulx/R,被试设备电压为Ucx=I/ωCx输出电压与励磁电压之比为试验回路的品质因数:Q=Ucx/Ulx=(ωL)/R,由于试验回路中电阻R很小,故试验回路品质因数很大。一般正常时可达50以上,既输出电压是励磁电压50倍,因此用较低容量的试验变压器就能得到较高的试验电压。这样就解决了在一般的交流耐压试验中试验变压器容量不能满足试验要求的问题。而此时电容量与电感的关系为ωL=1/ωc,因为对某个试品而言,电容量是固有的,试验用可调电感的价格也非常昂贵,因此解决问题的途径就引到了改变电源频率回路的谐振频率,在初始电压下调节回路的频率,观察Uc的变化达Zui大值时,增加或减小频率时谐振电压都要下降,这时的频率为谐振频率,这时的电压为谐振点电压,增加励磁电压就能升高谐振电压,从而达到试验电压目的。另外,由于试验回路是处于谐振状态,回路本身具有良好的滤波作用,电源波形中的谐波分量在设备两端大为减小,从而输出良好的正弦波形。当试品放电或击穿时,即回路中等值电容被短路,谐振条件被破坏,电压明显下降,恢复电压上升缓慢,试品上不发生暂态过电压,且电源供给的短路电流受到电抗的限制而减少,从而限制被试设备的损坏程度。

    二、变频串联谐振耐压试验装置的原理

      发生串联谐振的基本原理是:在R-L-C电路中

      变频串联谐振装置的原理

      由电工知识得到:Uc=I/ωC,UL=I*ωLUR=I*RU=Uc+UL+UR,当LRC串联回路中的感抗与试品容抗相等时,电感中的磁场能量与试品电容中的电场能量相互补偿,试品所需的无功功率全部由电抗器供给,电源只提供回路的有功损耗。电源电压与谐振回路电流同相位,电感上的电压降与电容上的压降大小相等,相位相反。由图1可知,当 ωL=1/ωc,回路的谐振频率f=1/2π√LC,也就是说,电路发生串联谐振,电源提供很小的励磁电压,试品上就能得到很高的电压,电源频率为谐振频率。

      如果还有关于变频串联谐振耐压试验装置原理的其他问题的,可以联系我们,我们有专业的人士为您解答。中试控股专业生产变频串联谐振耐压试验装置13年,是您可靠的选择。

 

 

 

 

 

 

 

 

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