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电力技术
电力电缆介质损耗测试仪
时间:2023-11-29

中试控股技术研究院鲁工为您讲解电力电缆介质损耗测试仪

ZSDJS-9510电缆介损测试仪

电缆介损试验相关标准

DL/T 1694.6-2020 高压测试仪器及设备校准规范 第6部分:电力电缆介质损耗测试仪
GB/T 3048.11-2007 电线电缆电性能试验方法 第11部分:介质损耗角正切试验
GB/T 3334-1999 电缆纸介质损耗角正切(tgδ)试验方法(电桥法)
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GOST 12179-1976 电缆和导线介质损失角正切测定法

简易读懂:电缆介损测试仪是做什么?

ZSDJS-9510电缆介损测试仪针对大容量和高电压容性设备,如高压电缆(介损tgδ:无限制,电流I20uA  I  15A,电压HV1KV  HV  40KV,频率 f30Hz f  300Hz),高压电机,高压套管的出厂试验等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

中试控股始于1986  30多年专业制造  国家电网.南方电网.内蒙电网.入围合格供应商

ZSDJS-9510高压电缆介损测试仪主要针对大容量和高电压容性设备,如高压电机,高压套管的出厂试验,高压电缆等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

特点:
17寸彩色液晶显示工业级电容屏:仪器采用高端电容式触摸7寸彩色液晶显示屏,超大显示界面所有操作步骤中文菜单显示,每一步都清晰明了。
2、超宽电流量程:正接法和反接法电流测量量程都可以达到20uA-15A的超宽范围,更大电流可定制。
3、超宽频率范围:外施高压频率可达30Hz-300Hz的超宽范围,自适应测量。
4、各种高电压可定制:外施高压电压能够满足各种高电压环境,可根据用户需求定制。
5、光纤高压通讯:测试主机高压采样与低压采样之间采用工业级光纤通讯模块,在兼顾高低压之间绝缘性能的同时又能最大程度保障测试数据的精度。
6、独立手持操作终端:手持终端与测试主机完全隔离采用2.4G无线通讯,整个测试过程中用户只需在手持终端上操作即可,最大程度保障操作人员的人身安全。
7、锂电池供电:手持终端、测试主机低压端、测试主机高压端,都采用锂电池供电,充满电可连续工作8小时以上。
8U盘存储:本机存储的数据可以通过USB接口保存至U盘中。
参数:
1、使用条件:-15℃∽40 RH80%
2、标准电容:tgδ: <0.005%Cn: 99.78PF
耐压电压: 40KV
3、分辨率:介损tgδ: 0.001%,电容量Cx: 0.001pF,频率f0.001Hz
4、精度:介损△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%),电容量△C x :±(读数*1.0%+1.00PF),频率 f:±(读数*1.0%+0.10Hz)
5、测量范围:介损tgδ无限制,电流I 20uA  I  15A,电压HV 1KV  HV  40KV,频率f 30Hz f  300Hz
6、手持终端锂电池:7800mAh锂电池
7、充电器:DC12.6V    3000mA
8、显示方式:7800*480彩色液晶显示屏
9、操作方式:工业级电容触摸屏
10、手持终端尺寸(mm)270(L)×160(W)×65(H)
11、测试主机尺寸(mm)300(L)×300(W)×600(H)
12、存储器大小200组,支持U盘数据存储
13、重量(手持终端)1.5Kg
14、重量(测试主机)23Kg


参考文献

交联聚乙烯电缆的介质损耗介绍

现象:电介质在外电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电缆绝缘介质(XLPE)也不例外。

定义:电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,即介质损耗(diclectric loss),简称为介损。

作用:介质损耗的大小是衡量绝缘介质电性能的一个重要指标。介质损耗不但消耗了电能,而且使绝缘发热引发热老化。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。

形成机理:按照电介质的物理性质通常有三种电介质损耗形式。

1)漏导损耗:实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。

对于XLPE电缆,在直流及交流电压下都存在漏导损耗,通常直流电压用泄漏电流的大小或绝缘电阻的大小来反映介质的这一损耗情况。

2)极化损耗:在介质发生缓慢极化时(松弛极化、空间电荷极化等),带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。

对于XLPE电缆,只有在交流电压下才存在极化损耗,而且随着交流频率的增大,极化损耗通常也增大。

3)局部放电损耗:通常在固态电介质中由于存在气隙或油隙,当外施电压达到一定数值时,气隙或油隙先放电而产生损耗,这一损耗在交流电压下要比直流电压时大的多。

对于XLPE电缆,在直流电压下,可用泄漏电流的大小来反映电介质的损耗,而在交流电压下,介质损耗不能单用泄漏电流来表示,通常用介质损耗正切来表示,即在一定的交流电压下,电缆绝缘所表现出的等效电阻Rg的大小值。

由于交联聚乙烯电力电缆不推直流耐压试验,交流耐压试验仅能反映电缆的电介质击穿特性,不能反映电缆的损耗特性,因此有必要对电力电缆进行介损测量。




1.一种电缆介损老化状态测试仪,其特征在于,它由超低频电源(4)、信号采集电路(2)、CPU处理器(3)三个部分组成,三部分顺序相接,信号采集电路(2)具有外接头,所述的超低频电源(4)频率为0.02-0.1Hz。
2.根据权利要求1所述的一种电缆介损老化状态测试仪,其特征在于,所述的超低频电源(4)频率为0.02Hz。
技术总结
一种电缆介损老化状态测试仪,其要点在于它由超低频电源、信号采集电路、CPU处理器三个部分组成,三部分顺序相接,信号采集电路具有外接头,所述的超低频电源频率为0.02?0.1Hz。本实用新型体积小,携带方便,它是在现有的电缆介损老化状态测试仪基础上进行改进,将工频电源改为超低频电源,电源的频率由50Hz下降到0.02?0.1Hz,减小了500?2500倍,也就意味着同样一根电缆比用工频50Hz电流要小500?2500倍,这样就可以带着很长的电缆进行试验,不受容量的影响。
测量高压电缆介质损耗的意义以及损耗类型解释
介质损耗因数反映绝缘的老化情况,是评价电缆绝缘性能的重要参量。另外随着电缆工作电压的升高,介质损耗产生的热量将严重限制电缆的传输容量及电缆寿命。在110kV下,电缆介质损耗可占线芯损耗的11. 8%。因此,研究XLPE电缆的介质损耗因数在工作中的变化规律,对发现电缆中存在的缺陷、保障线路的可靠运行以及提高XLPE载流量具有十分重要的意义。
在高压电场作用下,电介质中有一部分电能将转变为其他形式的能量,通常转变成热能。所谓电介质的损耗,是指在电场的作用下,电介质单位时间内损耗的电能。如果损耗很大,将会使介质温度升得很高,导致绝缘材料老化,严重时会使介质熔化、甚至烧焦,丧失绝缘性能。因此介质损耗的大小是断定绝缘性能的一项重要指标。
介质损耗根据行程的机理可分为驰豫损耗、共振损耗和电导损耗。另外,还有局部放电损耗。驰豫损耗和共振损耗分别与电介质的弛豫极化和共振极化过程相联系,而电导损耗则与电介质的电导相关联

中试控股技术研究院鲁工为您讲解

ZSDJS-9510电缆介损测试仪

电缆介损试验相关标准

DL/T 1694.6-2020 高压测试仪器及设备校准规范 第6部分:电力电缆介质损耗测试仪
GB/T 3048.11-2007 电线电缆电性能试验方法 第11部分:介质损耗角正切试验
GB/T 3334-1999 电缆纸介质损耗角正切(tgδ)试验方法(电桥法)
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GOST 12179-1976 电缆和导线介质损失角正切测定法

简易读懂:电缆介损测试仪是做什么?

ZSDJS-9510电缆介损测试仪针对大容量和高电压容性设备,如高压电缆(介损tgδ:无限制,电流I20uA  I  15A,电压HV1KV  HV  40KV,频率 f30Hz f  300Hz),高压电机,高压套管的出厂试验等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

中试控股始于1986  30多年专业制造  国家电网.南方电网.内蒙电网.入围合格供应商

ZSDJS-9510高压电缆介损测试仪主要针对大容量和高电压容性设备,如高压电机,高压套管的出厂试验,高压电缆等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz

特点:
17寸彩色液晶显示工业级电容屏:仪器采用高端电容式触摸7寸彩色液晶显示屏,超大显示界面所有操作步骤中文菜单显示,每一步都清晰明了。
2、超宽电流量程:正接法和反接法电流测量量程都可以达到20uA-15A的超宽范围,更大电流可定制。
3、超宽频率范围:外施高压频率可达30Hz-300Hz的超宽范围,自适应测量。
4、各种高电压可定制:外施高压电压能够满足各种高电压环境,可根据用户需求定制。
5、光纤高压通讯:测试主机高压采样与低压采样之间采用工业级光纤通讯模块,在兼顾高低压之间绝缘性能的同时又能最大程度保障测试数据的精度。
6、独立手持操作终端:手持终端与测试主机完全隔离采用2.4G无线通讯,整个测试过程中用户只需在手持终端上操作即可,最大程度保障操作人员的人身安全。
7、锂电池供电:手持终端、测试主机低压端、测试主机高压端,都采用锂电池供电,充满电可连续工作8小时以上。
8U盘存储:本机存储的数据可以通过USB接口保存至U盘中。
参数:
1、使用条件:-15℃∽40 RH80%
2、标准电容:tgδ: <0.005%Cn: 99.78PF
耐压电压: 40KV
3、分辨率:介损tgδ: 0.001%,电容量Cx: 0.001pF,频率f0.001Hz
4、精度:介损△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%),电容量△C x :±(读数*1.0%+1.00PF),频率 f:±(读数*1.0%+0.10Hz)
5、测量范围:介损tgδ无限制,电流I 20uA  I  15A,电压HV 1KV  HV  40KV,频率f 30Hz f  300Hz
6、手持终端锂电池:7800mAh锂电池
7、充电器:DC12.6V    3000mA
8、显示方式:7800*480彩色液晶显示屏
9、操作方式:工业级电容触摸屏
10、手持终端尺寸(mm)270(L)×160(W)×65(H)
11、测试主机尺寸(mm)300(L)×300(W)×600(H)
12、存储器大小200组,支持U盘数据存储
13、重量(手持终端)1.5Kg
14、重量(测试主机)23Kg


参考文献

交联聚乙烯电缆的介质损耗介绍

现象:电介质在外电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电缆绝缘介质(XLPE)也不例外。

定义:电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,即介质损耗(diclectric loss),简称为介损。

作用:介质损耗的大小是衡量绝缘介质电性能的一个重要指标。介质损耗不但消耗了电能,而且使绝缘发热引发热老化。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。

形成机理:按照电介质的物理性质通常有三种电介质损耗形式。

1)漏导损耗:实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。

对于XLPE电缆,在直流及交流电压下都存在漏导损耗,通常直流电压用泄漏电流的大小或绝缘电阻的大小来反映介质的这一损耗情况。

2)极化损耗:在介质发生缓慢极化时(松弛极化、空间电荷极化等),带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。

对于XLPE电缆,只有在交流电压下才存在极化损耗,而且随着交流频率的增大,极化损耗通常也增大。

3)局部放电损耗:通常在固态电介质中由于存在气隙或油隙,当外施电压达到一定数值时,气隙或油隙先放电而产生损耗,这一损耗在交流电压下要比直流电压时大的多。

对于XLPE电缆,在直流电压下,可用泄漏电流的大小来反映电介质的损耗,而在交流电压下,介质损耗不能单用泄漏电流来表示,通常用介质损耗正切来表示,即在一定的交流电压下,电缆绝缘所表现出的等效电阻Rg的大小值。

由于交联聚乙烯电力电缆不推直流耐压试验,交流耐压试验仅能反映电缆的电介质击穿特性,不能反映电缆的损耗特性,因此有必要对电力电缆进行介损测量。




1.一种电缆介损老化状态测试仪,其特征在于,它由超低频电源(4)、信号采集电路(2)、CPU处理器(3)三个部分组成,三部分顺序相接,信号采集电路(2)具有外接头,所述的超低频电源(4)频率为0.02-0.1Hz。
2.根据权利要求1所述的一种电缆介损老化状态测试仪,其特征在于,所述的超低频电源(4)频率为0.02Hz。
技术总结
一种电缆介损老化状态测试仪,其要点在于它由超低频电源、信号采集电路、CPU处理器三个部分组成,三部分顺序相接,信号采集电路具有外接头,所述的超低频电源频率为0.02?0.1Hz。本实用新型体积小,携带方便,它是在现有的电缆介损老化状态测试仪基础上进行改进,将工频电源改为超低频电源,电源的频率由50Hz下降到0.02?0.1Hz,减小了500?2500倍,也就意味着同样一根电缆比用工频50Hz电流要小500?2500倍,这样就可以带着很长的电缆进行试验,不受容量的影响。
测量高压电缆介质损耗的意义以及损耗类型解释
介质损耗因数反映绝缘的老化情况,是评价电缆绝缘性能的重要参量。另外随着电缆工作电压的升高,介质损耗产生的热量将严重限制电缆的传输容量及电缆寿命。在110kV下,电缆介质损耗可占线芯损耗的11. 8%。因此,研究XLPE电缆的介质损耗因数在工作中的变化规律,对发现电缆中存在的缺陷、保障线路的可靠运行以及提高XLPE载流量具有十分重要的意义。
在高压电场作用下,电介质中有一部分电能将转变为其他形式的能量,通常转变成热能。所谓电介质的损耗,是指在电场的作用下,电介质单位时间内损耗的电能。如果损耗很大,将会使介质温度升得很高,导致绝缘材料老化,严重时会使介质熔化、甚至烧焦,丧失绝缘性能。因此介质损耗的大小是断定绝缘性能的一项重要指标。
介质损耗根据行程的机理可分为驰豫损耗、共振损耗和电导损耗。另外,还有局部放电损耗。驰豫损耗和共振损耗分别与电介质的弛豫极化和共振极化过程相联系,而电导损耗则与电介质的电导相关联

那么,我们购买变频串联谐振试验装置时到底要不要去衡量Q值呢?其实对于不太了解的客户可能认为“Q值高,产品就好”,Q值只是作为一个概念性的参考,Q值并不能代表性能好坏的唯一因素或者是绝对因素,比如,Q值过大可能会造成电感烧毁,电容击穿,电路振荡等现象,有些科技类型产品,选材和工艺都非常好,反而会想办法降低Q值,所以,Q值只是衡量电感效能的品质因数。

综上所述,我们应该清楚关注产品质量应该关注稳定性、创新度,这才是根本!

如何选择变频串联谐振厂家,现在世面上串联谐振的厂家有很多,如何选择串联谐振,可以从厂家的从业年限,产品应用案例,产品口碑等几个方面来做参考。

首先如何选择串联谐振:做不同的高压试验所需要的电压等级不一样,所以得根据自己的需求(电压等级、被试品)来制定不同的方案,一般来说,串联谐振厂家都会根据客户的需求来制定符合的技术方案。

变频串联谐振适合各种大型电力变压器、电力电缆、汽轮及水轮发电机及其它容性设备的交流耐压试验,这些试验所需要的电压等级都必须严格按试验规程定期进行。在工频条件下,由于被试品电容量较大,或者试验电压要求较高,对试验装置的电源容量相应的也有较高的要求,传统的工频耐压装置往往单件体积大,重量重,不便于现场搬运,而且不便于任意组合,灵活性较差,因此可以考虑串联谐振试验装置。

在串联谐振中,当电压源施加到电感器和电容器时,必须添加电阻器,因为串联谐振中的LC等于短路,因此电压源不能短路。当电阻值恒定时,确定串联谐振电流。在功率方面,电感器和电容器的功率交替传输而不考虑损耗。当电容器放电时,电感器充电时电容器充电。

在恒压源并联谐振电源中,电感和电容的均方根电流是固定的,这只与电感和电容的大小有关;只有当电流源恒定时,增加电阻才能改变电感和电容的电流值。当条件恒定时,功率也是不变的,类似于串联谐振。

当电机串联电容形成串联谐振时,由于电机线圈的电阻存在,因此在固定电压下,电机线圈的电流在理论上趋于无穷大。因此,它不会趋向于无穷大,但也会大大超过额定电流。由于电机线圈的阻抗固定,电流增大,因此线圈两端的电压增大,励磁能量增加,功率增加,但由于电流很大,电机线圈容易烧毁。

对于并联电容器的并联谐振,由于电压源的存在以及电感和电容器两端的电压的存在,使得电感两端的电流是恒定的。然而,由于电容器的补偿,电压和电流的相位是相同的,这就增加了电源,即p=u*i*cos相位角。而平行共振在原则上使用的是一个电流源,它与这个源有点不同。由于电流源电流是恒定的,当电流源并联谐振时,LC的两端是相当开放的,而电阻直接通过电流源电流,即流过电流源的电流增大。它增加了两端的电压,增加了LC两端的电压,最终导致电流的上升。

为了适应具有大静电电容量试品的工频耐压试验需要,因此交流高压串联谐振试验设备就很有必要了。今天我们就分享一下利用串联谐振的工频耐压试验的特点分析!

利用串联谐振试验设备进行工频耐压试验的特点是:

(1)供电变压器T和调压器AT的设备容量小。这是因为上面曾分析过的,试品上的电压Uc=QUsUs为高压供电电压,既然高压回路中流过的电流是一样大的,所以供电变压器和调压器的容量,在理论上可比试验所需容量小Q倍。

(2)串联谐振装置所输出的电压波形较好。这是因为仅对工频(基波)产生谐振,而对其他由电源所带来的高次谐波分量来说,回路总阻抗甚大.所以试品上谐波分量甚弱,试验波形就较好。

(3)若在试品耐压过程中,发生了闪络,则因失去了谐振条件,高电压立即消失,从而使电弧即刻熄灭。

 

 

 

 

 

 

 

 

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