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35kv高压电缆介损老化状态测量仪
时间:2022-09-24

中试控股技术研究院鲁工为您讲解:35kv高压电缆介损老化状态测量仪

中试控股  造中国制造的优质品牌

始于1986年 ▪ 30多年专业制造 ▪ 国家电网.南方电网.内蒙电网.入围合格供应商ZSDJS-9535 高压电缆介损测试仪

ZSDJS-9535高压电缆介损测试仪主要针对大容量和高电压容性设备,如高压电机、高压套管的出厂试验、高压电缆等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz。

介质损耗试验的目的:是通过测量介质损耗因数来判断设备绝缘性能。



ZSDJS-9535高压电缆介损测试仪主要针对大容量和高电压容性设备,如高压电机,高压套管的出厂试验,高压电缆等,在采用外部大功率试验变压器或串联谐振等外部加压设备加压的环境下,进行介损测试。仪器分为手持终端和测试主机两部分。手持终端与测试主机之间采用2.4G无线通讯方式。可做正接法测试和反接法测试,正接法和反接法的电流测量量程均可达到2uA-15A的超宽范围。外施高压不同频率可自适应测量,范围可达30Hz-300Hz。
介质损耗试验的目的是通过测量介质损耗因数来判断设备绝缘性能。一般使用西林电桥、电流比较型电桥、M型介质试验器等仪器进行试验。

ZSDJS-9535高压电缆介损测试仪特点
1、7寸彩色液晶显示工业级电容屏
仪器采用高端电容式触摸7寸彩色液晶显示屏,超大显示界面所有操作步骤中文菜单显示,每一步都清晰明了。
2、超宽电流量程
正接法和反接法电流测量量程都可以达到20uA-15A的超宽范围,更大电流可定制。
3、超宽频率范围
外施高压频率可达30Hz-300Hz的超宽范围,自适应测量。
4、各种高电压可定制
外施高压电压能够满足各种高电压环境,可根据用户需求定制。
5、光纤高压通讯
测试主机高压采样与低压采样之间采用工业级光纤通讯模块,在兼顾高低压之间绝缘性能的同时又能最大程度保障测试数据的精度。
6、独立手持操作终端
手持终端与测试主机完全隔离采用2.4G无线通讯,整个测试过程中用户只需在手持终端上操作即可,最大程度保障操作人员的人身安全。
7、锂电池供电
手持终端、测试主机低压端、测试主机高压端,都采用锂电池供电,充满电可连续工作8小时以上。
8、U盘存储
本机存储的数据可以通过USB接口保存至U盘中。

ZSDJS-9535高压电缆介损测试仪工作原理
在交流电压作用下,电介质要消耗部分电能,这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时,电介质中的电压和电流间成在相角差ψ,ψ的余角δ称为介质损耗角,δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx),如图2—1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成,被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位差,再由数字信号处理器运用数字化实时采集方法,通过矢量运算得出试品的电容值和介质损耗正切值。
三主要技术参数
1、使用条件 -15℃∽40℃ RH<80%
2、标准电容 tgδ: <0.005% Cn: 99.78PF
耐压电压: 40KV
3、分辨率 介损tgδ: 0.001%
电容量Cx: 0.001pF
频率f:0.001Hz
4、精度 介损△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)
电容量△C x :±(读数*1.0%+1.00PF)
频率 △f:±(读数*1.0%+0.10Hz)
5、测量范围 介损tgδ 无限制
电流I 20uA ≤ I ≤ 15A
电压HV 1KV ≤ HV ≤ 40KV
频率 f 30Hz≤ f ≤ 300Hz
6、手持终端锂电池 7800mAh锂电池
7、充电器 DC12.6V    3000mA
8、显示方式 7寸800*480彩色液晶显示屏
9操作方式 工业级电容触摸屏
10、手持终端尺寸(mm) 270(L)×160(W)×65(H)
11、测试主机尺寸(mm) 300(L)×300(W)×600(H)
12、存储器大小 200 组 支持U盘数据存储
13、重量(手持终端) 1.5Kg
14、重量(测试主机) 23Kg






tand与绝缘电阻、电容及频率的关系

从上述公式看:
(1)tand跟绝缘电阻Rg成反比,绝缘电阻越低,介损值越大。因此,做介损测量时,应在绝缘良好的电缆上进行;如果有接头进水或受潮引起的电缆整体绝缘下降,势必会影响介损tanδ的值。(应提前用摇表测量电缆绝缘良好)
(2)跟电容Cg成反比,如果电容值Cg非常小,则介损值tanδ也会非常大,因此由于设备的限制,电缆的电容值至少要>2nF。(至少60米,否则波形失真)
(3)跟频率f成反比。


三、为什么在超低频0.1Hz电压下测试电缆介损?
交联聚乙烯绝缘内的水树枝老化是影响交联聚乙烯绝缘电缆线路使用寿命的重要因素,因为水树枝是导电的,所以绝缘内的水树枝不发生局部放电,在交流电压下进行局放测量不能发现绝缘中的水树枝。但是电缆绝缘中导电的水树区域有电损耗存在,会引起介质损耗的增加。而介质损耗增加和电缆绝缘击穿电压下降之间是有联系的。
0.1Hz正弦波电压对交联聚乙烯绝缘水树枝具有比较适中的局放起始值和较快的局放通道(电树枝)增长速度,能在比较低的电压水平下将绝缘内已经存在的不均匀导电性缺陷比较快的转变为贯穿性绝缘击穿,检测出绝缘隐形缺陷。而且0.1Hz正弦波电压下可以对电缆绝缘线路的绝缘进行介质损失因数测量,在一定程度上获得交联聚乙烯电缆线路老化程度的信息,确保电缆线路的可靠运行。
因此用0.1Hz超低频交流电压测量电缆绝缘的tand已经被证实是判断电缆绝缘老化程度行之有效的方法。
四、超低频介损测试的原理
介质损耗因素(tand)是用来描述介质材料绝缘性能的重要参数之一,tand越大的绝缘材料其漏电损耗越大。tand与测试电源电压角频率w、电容C、并联等效电路的绝缘电阻R有如下关系:
tanδ=1/(ωRC)

 

 

 

 

 

 

 

 

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