中试控股技术研究院鲁工为您讲解：gis局放带电测试仪（ ZSJF-9900局部放电综合试验仪 ） 

ZSJF-9900局部放电综合试验仪已经成功运用于:电力电缆、发电机组、开关柜、变压器、传输线、发电厂整体检测，灵活配超声波传感器、地电波传感器、特高频传感器、超声波聚波器，可实现对高压开关柜、环网柜、变压器、GIS、架空线路、电缆终端、电缆分支箱等设备的绝缘状态检测与评估。
通过配置不同的传感器可以灵活实现多种电气设备局放部电测试。
ZSJF-9900新型局部放电检测仪分发明目的：本发明要解决的技术问题是提供一种局部放电检测方法及系统，具有应用范围广泛、测量精准、信噪比高、实用性强、操作简单的特点，突破了传统局部放电信号检测的局限性，可广泛应用于局部放电信号检测。
ZSJF-9900新型局部放电检测仪随时观测电力设备的“健康”状况，为管理者安排生产及检修、合理调度和分配有限资源提供有效依据，能提高电力系统运营能力和规避风险能力、提高整体经营管理水平。
ZSJF-9900新型局部放电检测仪源于IEC 但远高于IEC 标准，可以大大提高用户及国内电力设备检测管理水平，也可以为改进国家电力检测规范提供依据。
ZSJF-9900新型局部放电检测仪可用于离线测量（如制造厂出厂检测，设备现场安装调试后并网前检测）、在线测量（被试设备无需退出运行或停电），或在线监测（在主控室或调度中心直接监测）。在线测量可以减少用户停电时间，提高生产运营能力。

数据存储
主要用于事后查看波形、pC值、频谱分析及试验报告的生成。系统状态条显示记录次数，此时通道说明框可以输入相应次数的描述，如当时电压情况等。
  手动记录
在“系统设置”界面中将“自动记录”改为未选中即可。软件会在SD卡中建立存储数据库和原始数据文件，例如：
试验名称为：ZS
则记录存储数据库为：Storage Card\试验管理\ZS\数据\ZS.db3
记录原始数据为：Storage Card\试验管理\ZS\数据\%d-%d-%d_%02d-%02d-%02d.dat
其中%d-%d-%d_%02d-%02d-%02d为当前记录存储时刻。
原始记录可供时域脉冲分析使用。
  自动记录
自动存数只是在“系统设置”界面中选中“自动记录”即可。此操作的效果是：根据系统设置界面中自动记录的时间间隔自动保存数据，保存内容与手动保存数据相同。
5.2.6浏览记录回放分析及发送
软件提供对记录的分析和查看功能，方便用户对已检测记录数据的事后分析处理，同时提供蓝牙发送接口。
“蓝牙发送”具体步骤如下：
（1）将蓝牙模块插入到本主机USB接口。
（2）打开平板蓝牙。若初次使用蓝牙模块，点击手机【设置-蓝牙】打开手机蓝牙界面，搜索可配对设备，对比已搜索到的设备地址是否与蓝牙模块所标记地址一致，若一致则进行配对，密码为0000或1234，完成连接。
（3）在主机停止运行状态下，打开 “浏览记录”，选择要上传的数据，点击“蓝牙发送”，此时可以看到手机数据测试平台上，数据显示二进制数据，点击过程可以查看当前接受数据是否正确，点击结果会显示所上传的数据。
干扰抑制
在现场测量试品的局部放电时，干扰信号的串入是不可避免的，如果干扰信号的幅度大于放电信号的幅度时，将不能测出放电的量值。而实际试验过程中要完全消除这些干扰信号往往是不可能的，只要将干扰抑制在一定水平下，能有效的测量试品内部局部放电量就可以了。针对现场干扰强这一特点，本系统通过接线方式、局放仪增加了若干种抗干扰措施。
1） 干扰或非正常放电的情况
⑴ 悬浮电位物体放电波形特点
在电压峰值前的正负半周两个象限里出现幅值。脉冲数和位置均相同，成对出现。放电可移动，但它们间的相互间隔不变，电压升高时，根数增加，间隔缩小，但幅值不变。有时电压升到一定值时会消失，但降至此值又重新出现。
原因：金属间的间隙产生的放电，间隙可能是地面上两个独立的金属体间（通过杂散电
容耦合）也可能在样品内，例如屏蔽松散。
外部尖端电晕放电波形特点：
起始放电仅出现在试验电压的一个半周上，并对称地分布在峰值两侧。试验电压升高时，放电脉冲数急剧增加，但幅值不变，并向两侧伸展。                     
原因：空气中高压尖端或边缘放电。如果放电出现在负半周，表示尖端处于高压，如果放电出现在正半周则尖端处于地电位。
液体介质中的尖端电晕放电波形特点。
放电出现在两个半周上，对称地分布在峰值两侧。每一组放电均为等间隔，但一组幅值较大的放电先出现，随试验电压升高而幅值增大，不一定等幅值；一组幅值小的放电幅值相等，并且不随电压变化。
原因：绝缘液体中尖端或边缘放电。如一组大的放电出现在正半周，则尖端处于高压；如出现在负半周，则尖端处于地电位。
接触不良的干扰图形。
波形特点：对称地分布在实验电压零点两侧，幅值大致不变，但在实验电压峰值附近下降为零。波形粗糙不清晰，低电压下即出现。电压升高时，幅值缓慢增加，有时在电压达到一定值后会完全消失。
原因：实验回路中金属与金属不良接触的连接点；塑料电缆屏蔽层半导体粒子的不良接触；电容器铝箔的插接片等（可将电容器充电然后短路来消除）。
可控硅元件的干扰图形。
波形特点：位置固定，每只元件产生一个独立讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时讯号幅值增加，试验调压时，该脉冲讯号会发生高频波形展宽，从而占位增加。
原因：邻近有可控硅元件在运行。
电极在电场方向机械移动的干扰图形。
波形特点：仅在试验电压的半周（正或负）上出现的与峰值对称的两个放电响应，幅值相等，而脉冲方向相反，起始电压时两个脉冲在峰值处靠得很近，电压升高时逐渐分开，并可能产生新的脉冲讯号对。
原因：电极的部分（尤其是金属箔电极）在电场作用下运动。
漏电痕迹和树枝放电
波形特点：放电讯号波形与一般典型图象均不符合，波形不规则不确定。
原因：玷污了的绝缘上漏电或绝缘局部过热而导致的碳化痕迹或树枝通道。
在放电测试中必须保证测试回路中其它元件（试验变压器、阻塞线圈、耦合电容器、电压表电阻等）均不放电，常用的办法是用与试品电容数量级相同的无放电电容或绝缘结构取代试品试验，看看有无放电。
2）滤波抗干扰
在加压之前，如果通道波形中有较强干扰，可对干扰开窗进行频谱分析，查看干扰主要频段范围，从而选择能够抑制干扰的合适频带，同时针对该频带应校准，如果该频带已经校准，在环境条件相同的条件下无需重新校准。
3）抑制静态干扰
在加压之前，如波形显示框中有较强干扰，并且波形的相位基本固定，则可采取静态抗干扰方式。如图 5 10中CH1在加压前存在固定相位干扰脉冲。
按“停止”按钮，框选中较低的背景噪声波形处，将波形窗口上方显示的pC值输入到“静态”抗干扰的“上阈”内，按“测试”按钮，随即该按钮变为“保存”，几秒钟后再按该按钮保存即可。运行过程中可以选中静态抗干扰，以消除静态干扰。
注：静态抗干扰按钮可在多个通道同时生效，各个通道的阈值可能不同，需要逐个测试。
4）天线门控抑制干扰
试验现场，各种无线电波以及其它设备产生的放电，都属于外部干扰，如果这些干扰通过空间串入试验回路而影响到试验时，可以采用天线门控抗干扰的措施。首先将某个通道接入天线（一般为CH2），将图 5 中的天线通道选为CH2，使用相位开窗，框住CH2信号比较小的部分（大于该值为干扰），读出pC值后，输入到“天线”的“上阈”编辑框中。在试验当中，选中“同极性”和“异极性”，即可利用天线通道的干扰信号屏蔽其它通道的相同相位的干扰，同时取消选中“同极性”和“异极性”可恢复干扰的对照显示。
当两个通道信号之间产生变异，可通过相移（0—±360℃）和加宽（0—±360℃，0℃不加宽）来调整相位和宽度，以便消除空间干扰，方法是：将CH1的干扰信号开窗分析，在脉冲分析画面得到其相位度数，同理得到另一通道的相位度数，两者之差值输入到“相移”框内，并适当修改干扰相移和干扰加宽的值。