测量绝缘子表面污秽是为了防止绝缘子表面有导电性的污秽造成绝缘子表面击穿放电，影响电力安全运行，测量绝缘子表面污秽的周期是根据检修的等级和具有污秽可能性的地区。

绝缘子表面污秽包含绝缘子表面盐密度和表面灰密度两个参量，在需要测量绝缘子表面污秽的情况下，盐密度和灰密度两个参量都需要测量。

什么是灰密度？

灰密度又称为非可溶沉积物密度，符号是NSDD，是指单位面积内附着在绝缘子表面不能溶解于水的物质，比如颗粒物，测量绝缘子表面的灰密度是采用绝缘子灰密度测试测量。

什么是盐密度？

盐密度（Equivalent Salt Deposit Density）是指在绝缘子表面单位面积中NaCI的含量，测量盐密度是采用绝缘子盐密度测试仪测量。

绝缘子表面污秽测量方法

测量绝缘子表面污秽度的方法分两步测量，盐密度的测量方法如下：

先用专用取样试纸在绝缘子带电绝缘子串取上数第二片、中间一片、下数第二片三片绝缘子表面的污秽，非带电绝缘子串取任意位置的三片绝缘子的污秽，将污秽连同试纸一起放入去离子水或者无盐化学水中充分搅拌，随后取出试纸，将盐密度专用传感器放入溶液的中心位置，在测试仪的显示界面读取盐密度即可。

测量盐密度的表面积与用水量的配置关系

测量表面污秽盐密度时，用水量应该按照以下方式配置，如果配置不正确会导致盐密度偏高或者偏低，具体配置如下：

污秽面积≤1500cm²时，用水量为300mL；
污秽面积≥1500~2000cm²时，用水量为400mL；
污秽面积≥2000~2500cm²时，用水量为500mL；
污秽面积≥2500~3000 cm²时，用水量为600mL；